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BUSINESS WIRE: JEOL: Marktfreigabe eines neuen ultrahoch atomar auflösenden, analytischen Elektronenmikroskops JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2)

| Quelle: Business_Wire | Lesedauer etwa 4 min. | Text vorlesen Stop Pause Fortsetzen

MITTEILUNG UEBERMITTELT VON BUSINESS WIRE. FUER DEN INHALT IST ALLEIN DAS BERICHTENDE UNTERNEHMEN VERANTWORTLICH.

TOKIO (BUSINESS WIRE) 14.02.2020

JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (President & COO Izumi Oi) kündigt die Marktfreigabe des neuen, atomar auflösenden, analytischen ElektronenmikroskopsJEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2) zum Februar 2020 an.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20200214005518/de/

Hintergrund der Produktentwicklung

In der Elektronenmikroskopie versuchte eine größere Anzahl von Mikroskopierern und Ingenieuren weiterhin, die mikroskopische Auflösung zu verbessern. Inzwischen arbeitete JEOL daran, die Stabilität des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) zu verbessern. Durch die Kombination von Technologien für die Aberrationskorrektur mit diesen Arbeiten erreichte JEOL eine hervorragend hohe Auflösung.

Das JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM)) Mikroskop ist als TEM mit atomarer Auflösung darauf ausgerichtet, die beste Auflösung seiner Gerätegruppe zu erreichen. Jedoch umfassen die Ansprüche für das moderne TEM nicht nur die Darstellung von harten, sondern auch von weichen Materialien. Unter diesen Umständen fordern die Nutzer von TEM eine weiter verbesserte Auflösung und Analyse mit einem höheren Schärfegrad.

JEOL hat ein neues TEM, das JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2) entwickelt, das diese Anforderungen erfüllt. Dieses ultrahoch atomar auflösende, analytische TEM verfügt über zahlreiche Merkmale. Insbesondere erreicht das GRAND ARM(TM)2 mit einem neuen Polstück der Objektivlinse, dem „FHP2“, eine optimale Kombination aus Bildgebung mit hervorragend hoher atomarer Auflösung zusammen mit ausgezeichneter EDS-Elementanalyse mit großem Raumwinkel.

Die Standardkonfiguration des GRAND ARM(TM)2 enthält ein Gehäuse, das externe Turbulenzen minimiert, was zu einer größeren Stabilität des Instruments führt.

Haupteigenschaften

1. Eine optimale Kombination einer ultrahohen räumlichen Auflösung mit hoch sensibler Röntgenanalyse.
Die Leistungsmerkmale des neu entwickelten FHP2 Polstücks der Objektivlinse sind folgende:
1) Im Vergleich zum vorhergehenden FHP liefert das FHP2 eine höhere Effizienz für die röntgenologische Erkennung (1,4sr), mehr als das Doppelte des FHP.
2) Ein niedriger optischer Koeffizient, ein niedriger Cc-Koeffizient sowie ein niedriger Cs-Koeffizient ermöglichen eine ultrahohe räumliche Auflösung und hoch sensible röntgenologische Analyse, die über eine Bandbreite beschleunigender Spannungen durchgeführt werden kann.
(Garantierte STEM-Auflösung: 53pm bei 300kV, 96pm bei 80kV)*
*Zu diesem Zeitpunkt ist der STEM-ETA-Korrektor konfiguriert.

2. Das Wide Gap Polepiece (WGP) für die Objektivlinse ermöglicht eine ultrahoch sensible röntgenologische Analyse.
Dieses Polstück mit einem weiten Abstand zwischen dem oberen und dem unteren Pol bietet folgende Vorteile:
1) Das WGP ermöglicht es, weit reichende SDDs (Silizium-Driftdetektoren) näher an die Probe zu bringen, wodurch sich eine ultrahoch sensible röntgenologische Analyse erreichen lässt (gesamter Raumwinkel von 2,2sr).
2) Das WGP lässt sich an dickere Probenhalter anpassen, wodurch unterschiedliche In-situ-Experimente möglich werden.

3. Korrektoren für die sphärische Aberration (Cs), die von JEOL entwickelt wurden, sind in die Mikroskopsäule integriert und sorgen für eine ultrahohe räumliche Auflösung.
1) In Kombination mit dem FHP2 erreicht das GRAND ARM(TM)2 eine STEM-Auflösung von 53pm bei 300kV.
2) In Kombination mit dem WGP erreicht das GRAND ARM(TM)2 eine STEM-Auflösung von 59pm bei 300kV.
3) Das JEOL COSMO(TM) (Corrector System Module) ermöglicht eine rasche und einfache Aberrationskorrektur.

4. Eine kalte Feldemissionskanone (Cold-FEG) wird standardmäßig geliefert.
Das GRAND ARM(TM)2 ist mit einer Cold-FEG ausgestattet, die für eine geringere Energieausbreitung aus der Elektronenquelle sorgt.

5. Gehäuse, das externe Turbulenzen minimiert
Dieses neue Gehäuse ist der Standard zur Verringerung externer Turbulenzen wie Luftströme, Veränderungen der Raumtemperatur und akustische Wellen.

Hauptspezifikationen

Garantierte Auflösung

 

HAADF-STEM-Abbildung: 53pm (mit ETA-Korrektor und FHP2)
Elektronenkanone: Kalte Feldemissionskanone (Cold-FEG)

Beschleunigungsspannung

Standard: 300kV und 80kV

Energiedispersives Röntgenspektrometer

Großflächiges SDD (158 mm2): Duale Detektoren möglich
Raumwinkel: 1,4sr (mit FHP2)

Jährliches Absatzziel

10 Einheiten/Jahr

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, Präsident und COO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)
www.jeol.com

Die Ausgangssprache, in der der Originaltext veröffentlicht wird, ist die offizielle und autorisierte Version. Übersetzungen werden zur besseren Verständigung mitgeliefert. Nur die Sprachversion, die im Original veröffentlicht wurde, ist rechtsgültig. Gleichen Sie deshalb Übersetzungen mit der originalen Sprachversion der Veröffentlichung ab.

JEOL Ltd
Wissenschaft und Messinstrumente, Vertriebsabteilung
Hideya Ueno
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

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